Prozessgeeignete Temperaturprofilmessungen mit faseroptischen Methoden
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03654_2008_03_02
Faseroptische Temperaturmessverfahren bieten einen Lösungsansatz zur Messung von Temperaturprofilen, deren Erfassung gemäß der Anforderungsbewertung aus der GMA-NAMUR Technologie-Roadmap von 2005 ein beachtliches Nutzenpotential darstellt.Intrinsische faseroptische Temperatur-Messverfahren werden vorgestellt, die als Raman-OTDR-Verfahren (Optical Time Domain Reflektometrie) Ortsauflösungen im Dezimeterbereich gestatten. Eine dafür konzipierte Photon-Counting-OTDR-Messvorrichtung besteht aus mechanisch relativ robusten faseroptischen Komponenten mit referenzierter Laserdiode, 3 dB-Koppler sowie Y-Koppler mit integriertem Bandenfilter und Avalanche-Empfangsdioden.
| Authors | Peter Seefeld/Endress+Hauser Wetzer GmbH &Co. KG |
|---|---|
| Publishing Date | 1 Mar 2008 |
| Format | |
| Zeitschrift | atp edition - Ausgabe 03 2008 |
| Publisher | DIV Deutscher Industrieverlag GmbH |
| Language | German |
| Pages | 5 |
| Title | Prozessgeeignete Temperaturprofilmessungen mit faseroptischen Methoden |
| Description | Faseroptische Temperaturmessverfahren bieten einen Lösungsansatz zur Messung von Temperaturprofilen, deren Erfassung gemäß der Anforderungsbewertung aus der GMA-NAMUR Technologie-Roadmap von 2005 ein beachtliches Nutzenpotential darstellt.Intrinsische faseroptische Temperatur-Messverfahren werden vorgestellt, die als Raman-OTDR-Verfahren (Optical Time Domain Reflektometrie) Ortsauflösungen im Dezimeterbereich gestatten. Eine dafür konzipierte Photon-Counting-OTDR-Messvorrichtung besteht aus mechanisch relativ robusten faseroptischen Komponenten mit referenzierter Laserdiode, 3 dB-Koppler sowie Y-Koppler mit integriertem Bandenfilter und Avalanche-Empfangsdioden. |
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